靜(jing)態電(dian)渦流位(wei)移(yi)傳(chuan)感(gan)器

靜(jing)態電(dian)渦流位(wei)移(yi)傳(chuan)感(gan)器靜(jing)態電(dian)渦流位(wei)移(yi)傳(chuan)感(gan)器用(yong)於傳(chuan)感(gan)器出廠檢(jian)驗(yan)和(he)用(yong)戶驗(yan)收(shou)電(dian)渦流位(wei)移(yi)傳(chuan)感(gan)器線性的必(bi)要(yao)工(gong)具(ju)，為(wei)了確保(bao)傳(chuan)感(gan)器符合本(ben)公司(si)出(chu)廠線(xian)性度(du)、靈敏度(du)要(yao)求(qiu)，都(dou)需要(yao)使(shi)用(yong)靜(jing)態位(wei)移(yi)校準(zhun)儀校驗(yan)以(yi)及(ji)對位(wei)移(yi)類測量儀表系(xi)統的標(biao)定(ding)。

  探(tan)頭螺(luo)紋(wen)部(bu)分(fen)用(yong)靜(jing)態位(wei)移(yi)校準(zhun)儀上(shang)的(de)支架(jia)配合螺(luo)母(mu)夾緊，註意(yi)試件盤的水平垂(chui)直性，校驗(yan)前須檢(jian)查探頭端面(mian)靠(kao)緊試件盤的表面(mian)時(shi)，其(qi)相互(hu)接觸(chu)處(chu)應(ying)無(wu)明(ming)顯角度（≤5°）縫隙，這樣(yang)才(cai)符合校(xiao)驗(yan)前的要(yao)求(qiu)。   
   校(xiao)驗(yan)傳(chuan)感(gan)器時(shi)應配(pei)合出(chu)廠時(shi)提供(gong)的傳(chuan)感(gan)器數據(ju)單(dan)。當(dang)旋轉螺(luo)桿(gan)(位(wei)移(yi)調節(jie)螺(luo)母(mu))使試件盤漸(jian)漸(jian)遠(yuan)離(li)探(tan)頭(tou)的(de)表(biao)面(mian)，用萬用(yong)表(biao)（5位(wei)半(ban)以上(shang)，並(bing)且該(gai)表(biao)是(shi)經過計量(liang)標(biao)定(ding)過的）觀(guan)察前置(zhi)器的(de)輸出變(bian)化(hua)，以傳(chuan)感(gan)器數據(ju)單(dan)上(shang)輸出曲線的(de)起始(shi)線性(xing)電壓(ya)為基準(zhun)點開(kai)始(shi)校對(dui)，壹般(ban)情況(kuang)傳(chuan)感(gan)器線性起點都定(ding)在-2.00V（菲利浦(pu)傳(chuan)感(gan)器線性起始(shi)點電(dian)壓為(wei)－4.00V）。註意(yi)試件盤從緊靠(kao)探頭(tou)表面(mian)到逐漸(jian)離(li)開(kai)探頭(tou)表面(mian)，直到前置(zhi)器輸出電壓為起(qi)始(shi)線性(xing)點電(dian)壓時(shi)（此時(shi)還可(ke)人(ren)為調(tiao)整靜(jing)態校(xiao)驗(yan)儀上(shang)的(de)百(bai)分表(biao)，使指針對準(zhun)0位(wei)置(zhi)，便於(yu)讀數(shu)）。這時(shi)從百(bai)分表(biao)上(shang)讀(du)的起始(shi)位(wei)置(zhi)間隙值(zhi)可能(neng)和數(shu)據(ju)單(dan)上(shang)的(de)起始(shi)位(wei)置(zhi)間隙值(zhi)不*，這(zhe)種情(qing)況(kuang)是正(zheng)常(chang)的，因(yin)為(wei)開(kai)始(shi)設定(ding)探頭表(biao)面(mian)和試件盤表面(mian)靠(kao)緊時(shi)，會存在(zai)壹定(ding)的人(ren)為因(yin)素誤差和(he)試件材(cai)料的略為影(ying)響(xiang)。（如數據(ju)單(dan)上(shang)起(qi)始(shi)位(wei)置(zhi)間隙是1.0mm,而(er)妳校(xiao)對(dui)時(shi)是1.10mm，即(ji)使有(you)這種情(qing)況(kuang)也(ye)不影(ying)響(xiang)傳(chuan)感(gan)器的測量非線性(xing)誤差和(he)靈敏度(du),因(yin)為(wei)這個(ge)起始(shi)間隙是屬(shu)無(wu)效(xiao)線(xian)性(xing)距(ju)離(li)，不(bu)影(ying)響(xiang)傳(chuan)感(gan)器實際測量時(shi)的相對(dui)位(wei)移(yi)或相對(dui)振(zhen)動(dong)）。然後每(mei)移(yi)動(dong)0.1mm 或0.2mm或0.5mm或1.0mm觀察前置(zhi)器輸出的電壓值(zhi)並紀錄(lu)。
    用(yong)靜(jing)態位(wei)移(yi)校驗(yan)儀檢(jian)驗(yan)傳(chuan)感(gan)器的線性特性曲線時(shi)，通常(chang)將傳(chuan)感(gan)器的滿有效線性(xing)量(liang)程(cheng)按(an)20個(ge)等分(fen)點(dian)進(jin)行(xing)校(xiao)驗(yan)（若(ruo)為(wei)φ8探(tan)頭(tou)電(dian)渦流傳(chuan)感(gan)器，其(qi)本(ben)身(shen)有(you)效線性(xing)測量量程(cheng)為(wei)2mm，當(dang)按(an)20個(ge)等分(fen)點(dian)進(jin)行(xing)校(xiao)驗(yan)時(shi)，即(ji)每(mei)移(yi)動(dong)試盤0.1mm後在(zai)前置(zhi)器上(shang)讀(du)出壹個(ge)數據(ju)，以(yi)此(ci)操(cao)作，讀(du)出20個(ge)數據(ju)，繪(hui)制(zhi)傳(chuan)感(gan)器輸出線性特性曲線，分(fen)析傳(chuan)感(gan)器輸出曲線非(fei)線性(xing)誤差是(shi)否(fou)滿足(zu)≤±1％的要(yao)求(qiu)）。位(wei)移(yi)靜(jing)態校(xiao)準(zhun)儀試件盤應避免(mian)接觸強(qiang)磁(ci)性(xing)物(wu)質，以防(fang)試件盤被磁(ci)化(hua)而改(gai)變(bian)其(qi)材(cai)料性質，帶來測量誤差。