用靜態位(wei)移(yi)校驗(yan)儀(yi)檢驗(yan)傳感器(qi)的線性(xing)特(te)性(xing)曲(qu)線時(shi)，通(tong)常(chang)將(jiang)傳感器(qi)的滿有效(xiao)線性(xing)量程(cheng)按(an)20個(ge)等分(fen)點(dian)進(jin)行(xing)校驗(yan)（若為φ8探(tan)頭電(dian)渦(wo)流傳感器(qi)，其本(ben)身有效(xiao)線性(xing)測量量程(cheng)為(wei)2mm，當(dang)按20個(ge)等分(fen)點(dian)進(jin)行(xing)校驗(yan)時(shi)，即(ji)每移(yi)動(dong)試(shi)盤(pan)0.1mm後(hou)在(zai)前(qian)置(zhi)器上讀出壹個(ge)數(shu)據(ju)，以此(ci)操(cao)作(zuo)，讀出20個(ge)數(shu)據(ju)，繪制傳感器(qi)輸(shu)出線性(xing)特(te)性(xing)曲(qu)線，分(fen)析(xi)傳感器(qi)輸(shu)出曲(qu)線非(fei)線性(xing)誤差是否(fou)滿足≤±1％的要求(qiu)）。位(wei)移(yi)靜態(tai)校準(zhun)儀(yi)試件盤(pan)應避(bi)免接(jie)觸(chu)強磁(ci)性(xing)物質(zhi)，以防(fang)試(shi)件盤(pan)被(bei)磁(ci)化而(er)改變其材(cai)料(liao)性(xing)質(zhi)，帶(dai)來(lai)測量誤差。
VRS4000靜態(tai)位(wei)移(yi)校驗(yan)器 用於傳感器(qi)出廠檢(jian)驗(yan)和用戶(hu)驗(yan)收(shou)電(dian)渦(wo)流位(wei)移(yi)傳感器(qi)線性(xing)的必(bi)要(yao)工(gong)具(ju)，為(wei)了確保(bao)傳感器(qi)符(fu)合(he)本(ben)公司(si)出廠線性(xing)度、靈(ling)敏度要求(qiu)，都需(xu)要(yao)使(shi)用靜態位(wei)移(yi)校準(zhun)儀(yi)校驗(yan)以及(ji)對(dui)位(wei)移(yi)類測量儀(yi)表系(xi)統(tong)的標(biao)定。
註(zhu)意試件盤(pan)從緊靠探(tan)頭表面到(dao)逐漸離開(kai)探(tan)頭表面，直到(dao)前置(zhi)器輸(shu)出電(dian)壓(ya)為起(qi)始(shi)線性(xing)點(dian)電(dian)壓(ya)時(shi)（此(ci)時(shi)還(hai)可(ke)人(ren)為調整靜(jing)態(tai)校驗(yan)儀(yi)上的百分(fen)表，使(shi)指(zhi)針對(dui)準(zhun)0位(wei)置(zhi)，便(bian)於(yu)讀(du)數(shu)）。這時(shi)從百分(fen)表上讀的起始(shi)位(wei)置(zhi)間隙值(zhi)可能(neng)和數(shu)據(ju)單上的起始(shi)位(wei)置(zhi)間隙值(zhi)不*，這種情況是(shi)正常(chang)的，因為開(kai)始設(she)定探(tan)頭表面和試件盤(pan)表面(mian)靠緊時(shi)，會(hui)存在(zai)壹(yi)定的人為(wei)因素誤差和試件材料(liao)的略為(wei)影(ying)響。
咨(zi)詢(xun)電(dian)話(hua)